光電直讀臺式合金分析儀器  OES火花只讀光譜儀，作為一種高效的金屬元素分析技術，廣泛應用于鋼鐵、有色金屬和合金、高純貴金屬以及夾雜物分析等領域。其在工業(yè)生產(chǎn)中的主要應用包括金屬和合金的快速元素分析、從痕量到百分含量的分析、準確度、精密度和穩(wěn)定性，以及簡便的儀器操作和維護。

　　首先，OES火花只讀光譜儀的高效性與準確性是其在工業(yè)生產(chǎn)中的重要優(yōu)勢。它能夠在極短的時間內(nèi)完成元素分析，許多測量只需幾秒鐘，與手持X射線熒光分析儀(XRF)的速度相當。這種快速的分析能力使得它非常適合于生產(chǎn)線上的即時檢測和質(zhì)量控制。同時，即使在低元素含量時，OES火花光譜儀也能提供高精度的分析結果，這對于區(qū)分類似合金（如通過碳含量區(qū)分合金316和316L）至關重要。

　　其次，OES火花只讀光譜儀具有廣泛的適用性，能夠同時分析樣品中的多種元素，大大提高了分析效率。它適用于包括Fe基體、Cu基體、Al基體等多種金屬和合金材料的元素分析，是金屬元素分析的較優(yōu)選擇。

       光電直讀臺式合金分析儀器 廣泛應用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、準確、穩(wěn)定、可靠測試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進料檢驗、產(chǎn)品分選多方面檢驗需求，是生產(chǎn)金屬產(chǎn)品的設備。

光電直讀臺式合金分析儀器  全譜檢測測試各種金屬和元素

基于CMOS檢測器全譜測試技術，測試各種金屬中元素的譜線，方便實現(xiàn)多基體、多元素的測試。

配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。

國際頂級供應商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力

光譜檢測器——CMOS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲

光室恒溫系統(tǒng)

光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。

由此抑制溫度變化下機械件尺寸微弱變化導致的光路漂移。除特殊維護，平時保養(yǎng)一般不需進行描跡。

同時檢測器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉(zhuǎn)換性能的穩(wěn)定。

快速同時分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預處理樣品置于樣品臺后，OES8000s可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測試結果。

可根據(jù)客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。

專業(yè)的測試方案

長期測試技術服務的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。

分析程序由原廠采用國際、國家標準樣品校準，經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護，不需購買大量制作分析程序的標準樣品。

   光電直讀臺式合金分析儀器技術性能及指標

1.   分光室設計

      帕邢-龍格結構,羅蘭圓直徑400mm

      波長范圍140 – 680nm

      像素分辨率10pm

      恒溫33℃±0.2℃

      特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小

      間歇式真空系統(tǒng)，可保證真空泵運行時間小于5%

2.   凹面光柵

      刻線密度3600l/mm

      光譜線色散率：1.04 nm/mm

3.   檢測器

      高性能線陣CMOS

4.   分析時間

      依樣品種類而不同，一般少于40秒

5.   激發(fā)光源

      全數(shù)字等離子火花光源技術

      高能預燃技術 (HEPS)

      頻率100-1000Hz

      電流1-80A

6.   激發(fā)臺

      3mm樣品臺分析間隙

      噴射電極技術

      特殊設計的氣路系統(tǒng)，保證低氬氣消耗